美國一項新研究表明，妊娠早期(特別是懷孕頭3個月)發(fā)高燒，容易導致胎兒心臟和面部缺陷。

美國杜克大學研究員、新生兒學專家艾瑞克·J·本納博士及其研究團隊發(fā)現，孕婦在妊娠早期發(fā)高燒本身就是導致胎兒唇腭裂(又稱兔唇)的一個關鍵原因。

研究人員研制出一種非侵入性磁力技術，利用該技術可創(chuàng)建高燒模式。進入模擬高燒模式后，胚胎就會出現顱骨面部畸形以及心臟缺陷等趨勢，缺陷類型取決于高燒發(fā)生在心臟、頭顱和面部發(fā)育的具體時間段。

自20世紀80年代初以來，科學家就已經知道新生兒出生缺陷與母親孕期高燒存在關聯。新研究結果表明，應該讓更多的育齡女性明白孕期高燒是新生兒缺陷的一大風險因素。孕期發(fā)高燒應及時就醫(yī)，切勿咬牙硬扛。